2.

1 Calculate the 2θ values in the X-ray diffraction spectrum for aluminum

(FCC). Assume the X-ray radiation is CuKα1.
2.1 Calcular los valores de 2θ en el espectro de difracción de rayos X para el
aluminio (FCC). Supongamos que la radiación de rayos X es CuKα1.

- CuKα1=0.15406 nm.
- Espectro de difracción para el aluminio.

Lado de la celdilla
es a = 0,404 nm.

a. Ley de bragg
0.404
d111 = = 0.234 nm
√12 +12 +12
0.404
d200 = = 0.202 nm
√22 +0 2+ 02
0.404
d220 = = 0.143 nm
√22 +22 +02
b. para n=1 y para λ= 0.15406 nm

θ111=sin−1
( 20.15406
( 0.234 ) )
=19.2 ° → 2 θ 111 =38.4 °

θ200 =sin−1
( 20.15406
( 0.202 ) )
=22.4 ° → 2θ 200 =44.8 °

0.15406
θ220 =sin−1
( 2 ( 0.143) )=32.6 ° → 2θ 220 =65.2°
2.2 Calculate the 2θ values in the X-ray diffraction spectrum for iron (BCC).
Assume the X-ray radiation is CuKα1.

2.2 Calcular los valores de 2θ en el espectro de difracción de rayos X para el

hierro (BCC).

Supongamos que la radiación de rayos X es Cu radiación K ∝

a= parámetro de red= 0.287nm

(h,k,l)= (110) a= parámetro de red= 0.3615nm

Para (110) λ=2 dsen ( θ )

0.15406=2 x ( 0.287
√2 )
sen(θ)

0.15406
=sen (θ)
2 x 0.2029

sin −1 ( 20.15406
x 0.2029 )
=θ

44.61=2θ

Para (200) λ=2 dsen ( θ )

0.287
0.15406=2 x
(√ 22+ 02 +02 ) sen (θ)

0.15406
=sen (θ)
2 x 0.1435

sin −1 ( 20.15406
x 0.1808 )
=θ

64.93=2θ
Para (211) λ=2 dsen ( θ )

0.287
0.15406=2 x
(√ 22+ 12+12 )
sen(θ)

0.15406
=sen(θ)
2 x 0.1172

sin −1 ( 20.15406
x 0.1172 )
=θ

82.20=2θ

2.3 Calculate the shifts in 2θ values in the diffraction spectrum in Question 2.1
by CuKα2 radiation.

Es igual al 1 solo varia la λ =0.15444 nm y no 0.15406 como en la pregunta 1

Lado de la celdilla es a = 0,404 nm.

a. Ley de bragg
0.404
d111 = = 0.234 nm
√12 +12 +12
0.404
d200 = = 0.202 nm
√22 +0 2+ 02
0.404
d220 = = 0.143 nm
√22 +22 +02
b. para n=1 y para λ= 0.15444 nm
0.15444
θ111=sin−1
( 2 ( 0.234 ) )
=19.22 ° → 2 θ111 =38.44 °

θ200 =sin−1
( 20.15444
( 0.202 ) )
=22.42° →2 θ =44.84 °
200

θ220 =sin−1
( 20.15444
( 0.143 ) )
=32.6 ° → 2θ =65.2°
220

2.4 Show that a relationship between real and reciprocal lattice is:
r • d* =uh+vk+wl=m (m is an integer).
2.4 Demostrar que una relación entre el entramado real y recíproca es: • r * d =
uh + vk + wl = m (m es un número entero).

2.5 Sketch a two-dimensional plane of the reciprocal lattice for an orthorhombic

Crystal (in which a>b) with a plane normal to the [001].

2.6 Sketch a two-dimensional plane of the reciprocal lattice for a hexagonal

crystal with a plane normal as [001].

 Los planos de las caras de la celda HCP (planos prismáticos) tomados

mediante 3 índices serian. (100) (010) y (1-10), los cuales no cumplen la
condición de permutación. Pero si le introducimos un cuarto índice ubicamos
en el tercer lugar, se soluciona la incoherencia (10-10) (01-10) (-1100).
  Estos índices están basados en el sistema de 4 ejes los ejes de la base a1, a2,
a3 forman ángulos de 120º entre si, el cuarto eje es el eje vertical C. los de
RECIPROCOS a1, a2, a3 son h,k,l y el reciproco de C es L.

y
(0001)=(001)

-1 1
x

Tomamos como referencia al átomo (0, 0,1) y (0, 0,2) para determinar la ubicación:

Usaremos la siguiente fórmula:

N

∑ f n exp ⁡¿ ¿
n

Dónde: (u,v,w) es (0,0,0) y (1/3,2/3,1/2)

(h,k,l) es (0,0,0) y (0,0,2)

N=2

a)
F (0,0,1 )=f exp (2 πi ( 0.0+0.0 +1.0 ) )+ f exp ¿¿

F (0,0,1 ) =f + fexp ( πi )=0

b)

F (0,0,2 )=f exp (2 πi ( 0.0+0.0 +2.0 ) )+ f exp ¿¿

F (0,0,2 )=f + fexp (2 πi )=2 f

2.8 ¿Por qué la intensidad de fondo de un espectro de rayos X, disminuye con

2θ?

2.8 Why does the background intensity of an X-ray spectrum decrease with 2θ?

En el arreglo descrito, la superficie de la muestra se comporta como un espejo con el ángulo

bisector entre la dirección del haz primario y la dirección del haz reflejado. Si la muestra y el
sistema detector giran exactamente en relación 1:2 de sus ángulos de rotación, la focalización
está garantizada para todas las reflexiones. En un cristal perfecto, la reflexión ocurre
exactamente cuando el ángulo θ que forma el haz primario y el plano de la red satisface la
ecuación de Bragg.
2.9 es la intesidad del pico (número de picos por ángulo 2θ) más alta a baja o a
altas 2θ 2θ en los espectros de difracción de rayos X? ¿Por qué? Usar un cristal
cúbico como un ejemplo para interpretar este fenómeno

2.9 Is the peak density (number of peaks per 2θ angle) higher at low 2θ or at high 2θ in
X-ray diffraction spectra? Why? Use a cubic crystal as an example to interpret this
phenomenon.

La intensidad que se dispersa de un átomo considerablemente es reducida con el

aumento 20 cuando la longitud de onda de rayo X es fijada.

El difractómetro registra la intensidad de difracción 2θ a partir de un bajo y que termina

en un alto 2θ. Un número de picos de intensidad situados en diferentes 2θ
proporcionar una huella dactilar'''' de un sólido cristalino, tales como Al2O3. Cada pico
representa difracción a partir de un cierto plano cristalográfico. Coincidencia de un
espectro de pico obtenido con un estándar espectro nos permite identificar las
sustancias cristalinas en un espécimen.

2.10 Explique las razones posibles para hacer que las discrepancias entre las
posiciones de los picos de un espectro de rayos X y sus datos estándar.

2.10 Explain possible reasons to cause discrepancies between the peak

positions of an X-ray spectrum and its standard data.

Es por el tamaño de grano tensiones internas del material, factor del equipo, por la
granulometría del material, del efecto del tamaño de los cristales y el ancho del pico
puede ser el resultado de factores instrumentales.

2.11  If diffraction peaks of a crystalline solid shift to the high 2θ direction by

internal stress, is this tensile or compressive stress?
El esfuerzo de tracción aumenta la separación y cambia un pico para disminuir a 2θ,
mientras que el esfuerzo de compresión disminuye la separación y desplaza un pico a
2θ más altos en el espectro. De hecho, la difracción de rayos X es una herramienta
eficaz para examinar la tensión residual en los sólidos.

2.12 Explain possible reasons to cause discrepancies between the peak

intensities of an X-ray spectrum and its standard data.
2.12 Explique motivos posibles de causar discrepancias entre las intensidades
máximas de un espectro de rayo X y sus datos estándar.

La correspondencia de intensidades relativas, sin embargo, es no siempre posible

incluso cuando el espécimen examinado tiene la misma estructura cristalina que el
estándar. Una razón de esta discrepancia podría ser la existencia de orientación
preferencial de cristal en la muestra. Esto a menudo pasa cuando examinamos
muestras gruesas en polvo o no en polvo. La orientación preferencial de cristales
(granos en sólido) aún puede hacer ciertos picos invisibles.

2.13 A thin-film polycrystalline solid has a preferential orientation with [001]

perpendicular to its specimen surface. Which kind of [hkl] will exhibit the higher
peak intensity and which kind of [hkl] will exhibit lower peak intensity than a
standard spectrum of the same solid?

2.13 Un sólido policristalino de película delgada tiene una orientación

preferencial con [001] perpendicular a su superficie de la muestra. ¿Qué tipo de
[hkl] exhibirá la intensidad del pico más alto y qué tipo de [hkl] exhibirá menor
intensidad máxima de un espectro estándar del mismo sólido?

La disposición de Bragg-Brentano, sin embargo, no es adecuado para muestras

delgadas tales como películas delgadas y capas de revestimiento.

La técnica de difracción de rayos X de película delgada utiliza una disposición óptica

especial para la detección de la estructura cristalina de las películas delgadas y
recubrimientos sobre un sustrato.

El haz incidente se dirige hacia la muestra con un ángulo pequeño de incidencia

(generalmente < 1°).

Por ello exhibirá la intensidad del pico más alto cuando el haz de incidencia este en
0°y exhibirá la menor intensidad cuando este a 1°.